四探针法造句

测量电阻率的四探针法公式中，要求是点接触而且探针的排列有一定的形状。

四探针法用在非常薄的样品，例如外延晶圆片和导电涂层上。

采用排水法测试试样密度，利用SEM和EDX分析微观结构和元素组成，采用四探针法测量电阻率。

GB/T14141-1993硅处延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法

本论文依据四探针法的基本原理并结合双脉冲技术，设计并制造适用于薄膜温差电材料的电阻率测试系统。